分析型掃描電子顯微鏡的能夠觀察材料表面的微觀結(jié)構(gòu)、形態(tài)、晶界、相界等,分析材料的表面粗糙度、顆粒大小及分布等,這些信息對于了解材料的性質(zhì)、性能和制備工藝等具有重要意義。結(jié)構(gòu):
電子光學(xué)系統(tǒng):包括電子槍、電磁透鏡和掃描線圈等部件。電子槍是發(fā)射電子的源,電磁透鏡則用于匯聚電子并調(diào)節(jié)電子束的聚焦?fàn)顟B(tài),而掃描線圈則使電子束在樣品表面作有規(guī)則的掃描動作。
信號探測處理和顯示系統(tǒng):在電子束與樣品相互作用的過程中,會產(chǎn)生各種信號,如二次電子、背散射電子、吸收電子、X射線等。這些信號被相應(yīng)的探測器接收,轉(zhuǎn)換為電信號,再經(jīng)過放大和處理后傳輸?shù)斤@像管或計算機(jī)系統(tǒng),最終以圖像的形式顯示出來。
真空系統(tǒng):為了確保電子束的正常運(yùn)行和避免污染,分析型掃描電子顯微鏡需要在高真空環(huán)境下工作。真空系統(tǒng)的作用是排除空氣,創(chuàng)造一個清潔的工作環(huán)境。
冷卻循環(huán)水系統(tǒng):為了防止設(shè)備過熱,分析型掃描電子顯微鏡通常需要配備冷卻循環(huán)水系統(tǒng)。該系統(tǒng)能夠?qū)⒃O(shè)備運(yùn)行過程中產(chǎn)生的熱量帶走,保證設(shè)備的正常工作。
電源供給系統(tǒng):為分析型掃描電子顯微鏡提供所需的電源,包括供電、控制和調(diào)節(jié)等電路。